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ROHS光谱分析仪

  • 型   号:X射线荧光光谱仪
  • 价   格:

仪器介绍EDX3600BX荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。

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X射线荧光光谱仪技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;

X射线荧光光谱仪仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对SiSAINaMgFeCoNiCuZn、等元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对SiSAI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
X射线荧光光谱仪性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
X射线荧光光谱仪技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量zui薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s 
能量分辨率为:(150±5eV 
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
X射线荧光光谱仪标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
精准的升降平台
加强的金属元素感度分析器
X射线荧光光谱仪应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在线控制

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