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国产X射线测厚仪Thick600

  • 型   号:Thick600
  • 价   格:

国产X射线测厚仪Thick600是快速、无损、精确测试电镀层厚度的仪器,改革开放以后,电镀工业也进入快速发展时期,大批境外厂家进入中国长三角、珠三角、渤海湾等地区。

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国产X射线测厚仪Thick600基本参数

 

x射线层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的精准分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm 
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围:0-140mm

 

国产X射线测厚仪Thick600产品优势

 

x射线测厚仪样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
无损:物理测量,不改变样品性质
准确:对样品可以精确分析
直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快
环保:检测过程中不产生任何废气、废水

 

技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U) 

同时检测元素:*多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9% 

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

先进的微孔准直技术:*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头 

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃ 
 

性能优势 

 

1.精密的三维移动平台 

2.卓越的样品观测系统 

3.先进的图像识别 

4.轻松实现深槽样品的检测 

5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 

6.双重保护措施,实现无缝防撞 

7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度 

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位; 

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样; 

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦; 

直接点击全景或局部景图像选取测试点; 

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。 

 

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