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金属电镀膜厚分析仪Thikc600

产品型号:  Thikc600

产品时间:  2018-09-17

所  在  地:  江苏省南京市高淳开发区北岭路200号;(广东办事处)深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  金属电镀膜厚分析仪Thikc600使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。

(联系我们,请说明是在 南京三翔分析仪器有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

1、仪器概述

    EDX600金属电镀膜厚分析仪是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
 

2、金属电镀膜厚分析仪Thikc600性能优势

专业贵金属检测、镀层厚度检测
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序

3、金属电镀膜厚分析仪Thikc600技术指标

元素分析范围:从钾(K)到铀(U)
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:1ppm
分析含量一般为:1ppm到99.9%
多次测量重复性可达:0.1%
长期工作稳定性为:0.1%
外观尺寸:430×380×355mm 
样品腔尺寸:306×260×78mm 
重量:30kg

4、标准配置

单样品腔。
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管

(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

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