相关术语

1.精密度

定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说，精密度就是重现性（Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的，测量的时间越长，则精度越高。

2.重复性

定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。

3.准确度

定义为各次测定值mi对于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，准确度也一定差。反之，准确度很差，精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和准确度都要求高。

4.目

颗粒度大小的直径，200目=74um5. 误差

X射线荧光光谱分析仪的误差往往是很难计算的，所以，通常情况下，把统计涨落引起的误差作为测量的误差。

6.检出限（Limit of detection）

获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量，就称为检出限（或叫检出限）。这时候，测到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.测定检出*，一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样（基体）的不同而不同。

7.计数统计误差    

 在放射性物质的测量中，假设仪器稳定性、机械在现性可确保，由仪器机械产生的误差可以忽略不计，但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值（N）的分布属于随机事件，其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长，则相对偏差就越小，即精度就越高。 

技术参数

产品名称：X射线荧光光谱分析仪

型号：EDX3600K型

X射线源：50KV、1mA

样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：X射线荧光光谱法

测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量，根据客户需求配置相应软件

检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素

含量范围：ppm～99.99%

检测时间：10秒以上，全程电脑操作

检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV

激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头：高清摄像头，测试过程可观测

测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以

准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换

自旋装置：可调速的自旋装置

检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm

真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa

数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率，测试更加准确

测试台：360°电动旋转式

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成

样品放置：*的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动，测试更稳定

数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG