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x射线光谱分析仪,镀层测厚仪

产品型号:  Thick8000

产品时间:  2018-09-06

所  在  地:  江苏省南京市高淳开发区北岭路200号;(广东办事处)深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  x射线光谱分析仪,镀层测厚仪,Thick 8000X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端镀层光谱分析仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

(联系我们,请说明是在 南京三翔分析仪器有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

仪器配置       

                                     

1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: 

(1)   X光管                 (2) 半导体探测器

(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台

(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统

(7) 上照、开放式样品腔      (8)双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

 

x射线光谱分析仪,镀层测厚仪参数规格

 

1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 
2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm99.9%
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV
6.先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头; 
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合; 
9.仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm
10.样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm
11.样品台尺寸:393Wx 258 Dmm
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
13.X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

 

x射线光谱分析仪,镀层测厚仪性能特点

 

1.精密的三维移动平台; 
2.卓越的样品观测系统; 
3.先进的图像识别; 
4.轻松实现深槽样品的检测; 
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换; 
6.双重保护措施,实现无缝防撞; 
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度。

 

安装要求:

 

1   环境温度要求:15-30

2   环境相对湿度:<70%

3   工作电源:交流220±5V

4   周围不能有强电磁干扰。

 

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