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X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法
发布时间:2017/8/25   点击次数:262次
X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。
 
与所有的分析仪器一样,在做出购买决定前应当考虑许多因素,例如应用领域等细节。所以,本文将着重讨论在选择一套用于测量薄层材料厚度的X射线荧光光谱仪体系时应当考虑的一些重要因素,讨论的对象主要为能量色散X射线荧光光谱仪体系(EDXRF),这种体系如今已经具有许多不同的配置规格,既有台式配置的,又有便携的、手持式配置的。
X射线荧光光谱仪故障现象:计数率不稳定。
荧光光谱仪故障分析:
X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定,问题常出现在流气计数器上。
流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成,由于窗膜承受大气压力,一段时间后随着基体材料的延展,铝膜可能产生裂纹,从而减弱导电性能,这种情况对脉冲高度分布影响不大,但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜,而不再使用6μm的窗膜,因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。
检查方法:在低X射线光管功率情况下,选一个K Kα计数率约2000CPS的样品,测定计数率,然后用一个钾含量高的样品取代原样品,将光管调到满功率,保持2分钟,再将X射线光管功率减至原值,测量第一个样品,如窗膜导电正常,将得到原计数率,如窗膜导电性能变差,会发现计数率减小,然后慢慢回升至初始值,这时就应调换窗膜。

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