Products
产品中心
网站首页  ◇  新闻资讯  ◇  X荧光光谱仪的发展及技术原理
X荧光光谱仪的发展及技术原理
  • 发布日期:2017-04-25     信息来源:公司新闻      浏览次数:806
    •  X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,经过侧定和剖析X射线的能量或X射线波长,可获知材料为何种元素,便可用来辨认物质构成,定量剖析物质中的元素含量。下面小编给大家介绍X荧光光谱仪的发展。
        在日常人们的生活中,很多材料都含有浓度不等的金属元素,有些元素对人体是有害的,如果超出人体所承受的范围,会对人体的健康造成伤害,X荧光光谱仪可以有效的对有害金属检测出来,应用X射线光谱仪扫描办法探测资料表层下面的缺陷是X射线无损检侧技能的一个主要使用范畴。
      X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
        元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
        λ=K(Z-s)-2
        式中K和S是常数。
        而根据量子理论,X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:
        E=hν=hC/λ
        式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
        因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

    在线客服
    在线客服
    扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
    访问手机站