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X荧光分析仪-艺慈仪器
  • 更新日期:2012-11-26     信息来源:公司新闻      浏览次数:4539
    •        不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

       

        因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。

       

        为了满足现代企业管理和生产要求,必须对生产过程中的原材料的化学成分进行及时、准确的分析和控制,传统的化学分析方法已经*不能满足生产过程的需要;目前众多新型冶炼企业为了达到良好的质量控制指标,大都配备了相应的分析仪。由于化学分析方法分析速度的限制,实际上,采用化学分析方法对于生产过程来说只有事后监测的意义,而没有控制意义,往往是当我们发现某个控制环节有问题时,已经造成了严重的后果,给工厂带来了很大的损失。

      荧光光谱仪的主要用途 

          1.荧光激发光谱和荧光发射光谱 
          2.同步荧光(波长和能量)扫描光谱 
          3.3D(Ex Em Intensity) 
          4.Time Base和CWA(固定波长单点测量) 
      5.荧光寿命测量,包括寿命分辨及时间分辨 
      6.计算机采集光谱数据和处理数据(Datamax和Gram32)

      X荧光光谱仪应用对象 

            分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。X荧光光谱仪分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 

       

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