Products
产品中心
网站首页  ◇  新闻资讯  ◇  X射线荧光光谱仪的软硬件技术分析说明
X射线荧光光谱仪的软硬件技术分析说明
  • 更新日期:2022-01-10     信息来源:公司新闻      浏览次数:1071
    •    X射线荧光光谱仪主要由激发源和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。

       
        X射线荧光光谱仪的软件技术:
        分析元素:Na~U之间元素。
       
        短分析时间:60秒。
       
        配置RoHS检测分析模型,无卤分析模型。
       
        软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
       
        可配置镀层分析模型、玩具指令等模型。
       
        软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
       
        根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试度。
       
        配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
       
        硬件技术:
        超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
       
        模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
       
        e空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。
       
        电路系统符合EMC、FCC测试标准。
       
        快拆卸样品台,换薄膜更方便。

    扫一扫加微信

    微信号:

    YC15889518776

    在线客服