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XRF光谱仪的基本原理和无标样分析方法
  • 发布日期:2019-10-24     信息来源:公司新闻      浏览次数:489
    • XRF光谱仪的基本原理

      XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品,样品中原子的内层电子被激发,当外层电子跃迁时产生特征X射线,通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(或能量)和强度,可以获得样品中的元素组成与含量信息,达到定性定量分析的目的。
      X射线是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。
       
      XRF光谱仪的无标样分析方法
      对于以固体进样为主的X射线荧光分析技术,要获得一套高质量的固体标准样品有一定难度,限制了X射线荧光分析的应用范围。
       
      XRF光谱仪无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术,其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。它的基本思路是:由仪器制造商测量标准样品,储存强度和工作曲线,然后将这些数据转到用户的X射线荧光分析系统中,并用随软件提供的参考样品校正仪器漂移。因此,无标样分析不是不需要标样,而是将工作曲线的绘制由仪器制造商来做,用户将用户仪器和厂家仪器之间的计数强度差异进行校正。其优点是采用了制造商的标样、经验与知识,包括测量条件,自动谱线识辨,背景扣除,谱线重叠校正,基体校正等。无标样分析技术可以在没有标准样品的情况下分析各种样品中的七十几个元素,应用范围较广,但其适用性也带来了分析准确度的局限性。
       
      商检系统已经将XRF光谱仪无标样分析技术应用到了进出口的金属材料和矿产品的检验中。尤其在进口铁矿中涉及安全卫生环保要求的有害元素监控,进口铜矿、铜精矿中有害元素限量判定等方面,获得了很好的应用。

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