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X荧光镀层测厚仪的校准方法
  • 发布日期:2024-06-29     信息来源:      浏览次数:259
    •   X荧光镀层测厚仪采用X射线荧光光谱分析技术。当X射线照射到被测样品表面时,会激发出被测元素的特征X射线荧光。通过测量这些荧光的能量和强度,可以确定被测元素的种类和含量,从而计算出镀层的厚度。
       
        X荧光镀层测厚仪是一种非破坏性测试设备,用于测量金属基材上涂层或镀层的厚度。为确保其测量结果的准确性和可靠性,需要定期进行校准。以下是X荧光镀层测厚仪的校准方法:
       
        1、准备校准标准样品
       
        选择符合测量范围和精度的校准标准样品。
       
        确保标准样品的涂层或镀层厚度已知且准确。
       
        标准样品应具有稳定的物理和化学性质,以确保长期使用的准确性。
       
        2、设置测厚仪
       
        打开X荧光镀层测厚仪,并预热至稳定工作状态。
       
        根据测量需求,选择合适的测量模式和参数设置。
       
        确保测厚仪的探头和测量面干净、无损伤,以保证测量精度。
       
        3、进行零点校准
       
        在没有涂层或镀层的金属基材上进行零点校准。
       
        将探头放置在金属基材上,按照测厚仪的提示进行零点设置。
       
        零点校准完成后,记录校准结果。
       
        4、进行厚度校准
       
        使用标准样品进行厚度校准。
       
        将探头放置在标准样品上,记录测厚仪的测量值。
       
        比较测量值与标准样品已知的涂层或镀层厚度值,计算误差。
       
        根据误差调整测厚仪的校准参数,直至测量值与标准值一致或误差在允许范围内。
       
        重复上述步骤,直至所有需要校准的测量范围和参数均完成校准。
       
        5、记录校准结果
       
        记录校准过程中使用的标准样品信息、测量值、误差及调整参数等。
       
        将校准结果保存至测厚仪或相关文件中,以便日后查询和追溯。
       
        6、验证校准结果
       
        使用其他已知厚度的标准样品进行验证测量。
       
        比较验证测量值与标准值,确保误差在允许范围内。
       
        如验证结果不符合要求,需重新进行校准或检查测厚仪的性能。

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