X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。

 

X射线镀层测厚仪的测量原理：

 

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

 

THICK-800AX荧光测厚仪的优点：

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

 

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

 

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

 

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

 

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

 

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

 

高分辨率探头使分析结果更加精准

 

良好的射线屏蔽作用

 

测试口高度敏感性传感器保护